你的位置:首頁 > 產(chǎn)品展示 > 白光干涉儀 >
產(chǎn)品展示-
- 白光干涉儀
產(chǎn)品用途: 結(jié)合光學(xué)顯微鏡與白光干涉儀功能的掃描式白光干涉顯微鏡,結(jié)合顯微物鏡與干涉儀、不需要復(fù)雜光調(diào)整程序,兼顧體積小、納米分辨率、易學(xué)易用等優(yōu)點(diǎn),可提供垂直掃描高度達(dá)400um的微三維測量,適合各種材料與微組件表面特征和微尺寸檢測。應(yīng)用領(lǐng)域包含:玻璃鏡片、鍍膜表面、晶圓、光碟/影碟、精密微機(jī)電元件、平面液晶顯示器、高密度線路印刷電路板、IC封裝、材料分析與微表面研究等。
- 型號(hào):
- 更新日期:2024-11-06 ¥面議
共 1 條記錄,當(dāng)前 1 / 1 頁 首頁 上一頁 下一頁 末頁 跳轉(zhuǎn)到第頁